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透射电镜双倾光电原位系统

产品特点

顺利获得光纤引入的光源和MEMS芯片在原位样品台内构建光、电复合多场自动控制及反馈测量系统，结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式，实现从纳米甚至原子层面实时、动态监测样品在真空环境下随光场、电场变化产生的微观结构演化、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的原子级结构和成分演化等关键信息。
  • 产品组成
  • 独特优势
  • 功能参数
  • 应用案例

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    a.双倾光电原位样品杆
    b.MEMS原位光电芯片
    c.电学控制器
    d.电学控制程序
    e.光源工作站
    f.双倾控制器
    g.附件包

     

     

    关键词:
    • MEMS原位光电芯片
    • 双倾光电原位样品杆
    • 原位透射固体样品杆

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    业界领先的光学解决方案

    ·1.一体式激光光源，集成紫外-可见-红外不同波段并输出特定波长激光，光信号强（最大强度不低于150 mW/cm2），可快速陆续在调节光源强度，响应时间短（毫秒级）。
    ·2.特殊结构设计，超低光损耗，能量稳定均匀。
    优异的电学性能

    ·1.采用模拟校验独特设计的芯片电极，电场分布均匀、电位稳定，芯片表面的保护性涂层保证电学测量的低噪音和精确性，电流测量精度可达pA级。
    ·2.MEMS微加工特殊设计，在加光过程中可同时进行电学试验和表征，不影响光信号稳定性。
    智能化软件和自动化设备

    ·1.人机分离，软件远程调节激光波段和强度，程序自动化控制倾转角度。
    ·2.全流程配备精密自动化设备，协助人工操作，提高实验效率。

           

  • 类别 项目 参数
    基本参数 杆身材质 高强度钛合金
    视窗膜厚 无膜或20nm
    漂移率 ＜0.5 nm/min（稳定状态）
    适用电镜 Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi
    适用极靴 ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP
    倾转角 α ≥ ±25°，β ≥ ±25°（实际范围取决于极靴型号）
    (HR)TEM/STEM 支持
    (HR)EDS/EELS/SAED 支持升温过程及高温检测

     

     

     

    分析更多详情

  • Ag2Te基热电材料随电压变化情况

    0.4v电压Ag2Te基热电材料高分辨

    Ag2Te 基热电材料由于能够顺利获得内部载流子的运动实现电能和热能之间的相互转换;因此，在进 行施加电压实验过程中会出现随着电压的增大，样品自身温度升高的现象;研究得知随着电压持 续升高，样品表面结构变化明显，纹路由不规则块状演变成条状或消失。而且，顺利获得降低电压的 过程，凯发k8国际发现该材料升高或降低电压时，表面结构发生变化的过程是可逆的，表明该材料具有 优异的热电性能和重复使用性能。

     

     

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